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半導體材料四探針測試儀

半導體材料四探針測試儀

型    號: JKZC-ST4
報    價: 35000
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JKZC-ST4型數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標準
儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩定性好、智能化程度高、測量簡便、結構緊湊、使用方便等特點。

JKZC-ST4半導體材料四探針測試儀的詳細資料:

JKZC-ST4型半導體材料四探針測試儀

關鍵詞:電阻,電阻率,四探針,半導體

 

 

      

 

   

  

    

膜探頭測薄膜                  鎢針探頭

一、產品概述

    JKZC-ST4型數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標準。

儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩定性好、智能化程度高、測量簡便、結構緊湊、使用方便等特點。

儀器適用于半導體材料廠器件廠、科研單位、高等院校對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試。

二、符合:

1、符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、

2、符合GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》

3、符合美國 A.S.T.M 標準

二、產品應用:

1、測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率/方阻;

2、可測柔性材料導電薄膜電阻率/方阻

3、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜(ITO膜)電阻率/方阻

4、納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻

5、電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻進行測量

6、可測試電池極片等箔上涂層電阻率方阻

二、基本技術參數

1、  測量范圍

     電  阻:1×10-4~2×105 Ω   ,分辨率:1×10-5~1×102 Ω

   電阻率:1×10-4~2×105 Ω-cm,分辨率:1×10-5~1×102 Ω-cm

   方  阻:5×10-4~2×105 Ω/□,分辨率:5×10-5~1×102 Ω/□

2、測量方式:自動或手動

3、基本精度:±0.1/%

4、四探針探頭:

   (1)碳化鎢探針:Φ0.5mm,直線探針間距1.0mm,探針壓力: 0~2kg 可調

   (2)薄膜方阻探針:Φ0.7mm,直線或方形探針間距2.0mm,探針壓力: 0~0.6kg 可

5. 電源:198V -242V(AC),47.5Hz -63Hz

6、操作環境:  0°C -40°C ,≤90%RH

7、外形尺寸:200mm(長)×220 mm(寬)×100mm(高)

8、數據傳輸方式;USB

9、軟件方式:人性化分析軟件界面,數據自動生成 

 

    

                      分析軟件(一)

 


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